正确答案: B

破坏性试验

题目:电子元器件的寿命试验属于( )。

解析:解析:破坏性检验是指将被检样品破坏(如在样品本体上取样)后才能进行检验;或者在检验过程中,被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括:①零件的强度试验;②电子元器件的寿命试验;③电器产品的周期湿热试验;④纺织品或材料的强度试验等等。

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举一反三的答案和解析:

  • [多选题]质量改进的组织有不同的层次,具体可分为( )。
  • 质量委员会

    质量改进团队


  • [多选题]质量检验记录要记录的内容有( )
  • 检验数据

    班次

    检验人员签名


  • [单选题]从第( )批可以从加严检验恢复到正常检验。
  • 13

  • 解析:进行加严检验时,如果连续5批初次检验接收,则从下批起恢复正常检验。第8批至第12批均接收,所以第l3批可改为正常。

  • [单选题]事件A>60与事件B<100是( )。
  • 相容事件


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