正确答案: ABCDE

可研究颅面生长发育可对牙颌、颅面畸形作诊断分析可确定错畸形的矫治设计可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

题目：X线头影测量的主要应用有

举一反三的答案和解析：

[单选题]腭穹隆增高的原因正确的是

[单选题]二型观测线在基牙上形成的倒凹区

[单选题]Hawley上颌矫治器的支抗主要来源于

[多选题]期前收缩的产生机制包括

[多选题]以下关于牙体预备中牙髓保护的说法正确的是

考试指南

模拟考场考试大纲人机对话考试科目考试时间历年真题名师点题考试押题成绩查询报考指南报考条件在线题库

口腔正畸学(副高)题库下载排行

考试宝典

口腔正畸学(副高)题库最新资料

推荐下载科目：健康教育与健康促进(正高) 理化检验技术(正高) 骨外科学(副高) 中西医结合儿科学（副高）临床医学检验临床基础检验(副高) 心电学技术(副高) 神经电生理（脑电图）技术(副高) 住院医师规培(全科医学) 医学临床三基（医院管理分册）内科主治

可研究颅面生长发育 可对牙颌、颅面畸形作诊断分析 可确定错畸形的矫治设计 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据