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在零件长度的均值控制图上标有( )。

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  • 【名词&注释】

    价格低廉(low price)、质量指标(quality index)、电子元器件(electronic components)、调整型抽样方案(adjusting sampling scheme)、上控制限、计数调整型(count-adjusting)、破坏性检验(destructive inspection)、连续生产(continuous production)、合格品率(rate of qualified products)、加工成本(processing cost)

  • [多选题]在零件长度的均值控制图上标有( )。

  • A. 每个零件的长度值
    B. 中心线
    C. 上、下控制限
    D. 零件长度的公差限
    E. 零件子组的样本均值

  • 查看答案&解析
  • 举一反三:
  • [多选题]对任意两个事件A与B,有( )。
  • A. P(AB)=P(A)+P(B)-P(A∪B)
    B. P(AB)=P(A)P(B)
    C. P(A-B)=P(A)-P(AB)
    D. P(A)P(B|A)=P(B)P(A|B)
    E. P(A∪B)=P(A)+P(B)

  • [多选题]选择检验水平应考虑的因素有( )。
  • A. 产品的精密程度与价格
    B. 构造简单、价格低廉的产品检验水平应低些,检验费用高的产品应选择低检验水平
    C. 破坏性检验(destructive inspection)选低水平或特殊检验水平
    D. 生产的稳定性差或新产品应选高检验水平
    E. 批与批之间的质量差异性大必须选高水平,批内质量波动幅度小,可采用低水平

  • [单选题]关于抽样分布,下列说法错误的是( )。
  • A. 统计量的分布称为抽样分布
    B. 每一个统计量都有一个抽样分布
    C. 不同的统计量可得不同的抽样分布
    D. 抽样分布只能通过理论推导获得

  • [多选题]无偏移情况的Cp表示( )。
  • A. 过程加工的一致性
    B. Cp越大,质量能力越弱
    C. “质量”能力
    D. Cp越大,质量能力越强
    E. 过程加工的不统一

  • [单选题]根据材料,回答下列各题。 某企业长期连续生产(continuous production)某种电子元器件,根据稳定生产过程数据估计过程不合格品率(rate of qualified products)约为3%,在和顾客签订销售合同时,顾客提出了供货数量和供货时间要求,同时对方的质量部门要求如果长期供货的话,生产过程产品不合格品率(rate of qualified products)应不高于2%。 如果企业决定使用计数调整型抽样方案,设计的质量指标应是( )。
  • A. AQL
    B. LQ
    C. 过程平均
    D. 批质量

  • [多选题]在正态方差未知时,对正态均值μ的检验问题H0:μ=μ0,H1:μ≠μ0的拒绝域W=( )。
  • A. {|t|>t1-α(n-1)}
    B. {|t|>tα(n-1)}
    C. {|t|>t1-α/2(n-1)}
    D. {|t|>-tα/2(n-1)}
    E. {|u|>u1-α/2}

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